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학술저널
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주동명 (성균관대) 김동식 (대진대) 이병국 (성균관대) 김종수 (대진대)
저널정보
전력전자학회 전력전자학회논문지 전력전자학회 논문지 제20권 제6호
발행연도
2015.12
수록면
558 - 565 (8page)

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Gallium nitride high-electron mobility transistor (GaN HEMT) is the strongest candidate for replacing Si MOSFET. Comparing the figure of merit (FOM) of GaN with the state-of-the-art super junction Si MOSFET, the FOM is much better because of the wide band gap characteristics and the heterojunction structure. Although GaN HEMT has many benefits for the power conversion system, the performance of the power conversion system with the GaN HEMT is sensitive because of its low threshold voltage (Vth) and even lower parasitic capacitance. This study examines the characteristics of a phase-shifted full-bridge dc–dc converter with cascode GaN HEMT. The problem of unoptimized dead time is analyzed on the basis of the output capacitance of GaN HEMT. In addition, the printed circuit board (PCB) layout consideration is analyzed to reduce the negative effects of parasitic inductance. A comparison of the experimental results is provided to validate the dead time and PCB layout analysis for a phase-shifted full-bridge dc–dc converter with cascode GaN HEMT.

목차

Abstract
1. 서론
2. GaN Power System
3. GaN Based System Design Consideration
4. 결론
References

참고문헌 (11)

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