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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2019.12
- 수록면
- 867 - 874 (8page)
- DOI
- 10.3795/KSME-A.2019.43.12.867
이용수
초록· 키워드
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본 논문은 파괴적인 가속 열화 시험을 수행하여 확보한 이차 형식을 가지는 열화 데이터를 이용하여 저장 조건에서의 신뢰도를 추정하는 방법을 제시한다. 신뢰도 추정에 사용되어왔던 대부분의 열화데이터는 시간에 따라 증가하거나 감소하는 단순한 경향을 나타내지만 본 연구의 대상인 열화 데이터는 시간이 증가함에 따라 증가한 후에 감소하는 경향을 나타내는 특성을 나타낸다. 이러한 열화 데이터 경향을 이차 함수를 이용하여 모델링하고 가속 수명 모델을 적용하는 방법과 저장 조건에서 저장 신뢰도를 추정하는 방법을 제시한다. 제안한 방법을 검증하기 위하여 통계적인 프로세스를 발생 시켜 이차 형식을 나타내는 비복원 추출된 가속 열화 데이터를 생성하였다. 생성한 가속 열화 데이터에 본 연구에서 제안한 방법과 문헌에 공개된 방법을 적용하여 저장 신뢰도를 추정하였으며 제안한 방법이 기존 방법보다 정확성이 매우 높은 결과를 제공한다.
목차
초록
Abstract
1. 서론
2. 열화 모델
3. 열화 데이터 모사 및 분석
4. 열화 모델을 이용한 신뢰도 추정
5. 결론
참고문헌 (References)
참고문헌 (12)
참고문헌 신청
Magari, R. T., Murphy, K. P. and Fernandez, T., 2002, “Accelerated Stability Model for Predicting Shelflife,” Journal of Clinical Laboratory Analysis, Vol. 16, No. 5, pp. 221~226.
Li, Y., Donnet, D., Grzegorczyk, A., Cavelaars, J. and Kuper, F., 2010, “Assessing the Degradation Mechanisms and Current Limitation Design Rules of SiCr-based Thin-film Resistors in Integrated Circuits,” 48th Annual IEEE International Reliability Physics Symposium, May, CA, USA, pp. 724~730.
Nogueira, E., Orlando, V., Ochoa, J., Fernandez, A. and Vazquez, M., 2016, “Accelerated Life Test of High Luminosity Blue LEDs,” Microelectronics Reliability, Vol. 64, pp. 631~634.
Liao, H. and Elsayed, A. E., 2006, “Reliability Interference for Field Conditions from Accelerated Degradation Testing,” Naval Research Logistics, Vol. 53, No. 6, pp. 557~587.
Park, S. and Kim, J., 2013, “A Study on the Storage Life Estimation Method for Applying Gamma Process Model to Accelerated Life Test Data,” Journal of the Korean Society of Propulsion Engineers, Vol. 17, No. 3, pp. 30~36.
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