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자료유형
학술저널
저자정보
Kang, Jong O (Department of Electrical Engineering, Korea national University of Transportation) Lee, Onyou (Department of Electrical Engineering, Korea national University of Transportation) Mo, Young Kyu (Department of Electrical Engineering, Korea national University of Transportation) Kim, Junil (Department of Electrical Engineering, Korea national University of Transportation) Bang, Seungmin (Department of Electrical Engineering, Korea national University of Transportation) Lee, Hongseok (Department of Electrical Engineering, Korea national University of Transportation) Lee, Jae-Hun (SuNAM Co., Ltd.) Jang, Cheolyeong (SuNAM Co., Ltd.) Kang, Hyoungku (Department of Electrical Engineering, Korea national University of Transportation)
저널정보
한국초전도저온학회 한국초전도·저온공학회논문지 한국초전도·저온공학회논문지 제17권 제3호
발행연도
2015.1
수록면
37 - 40 (4page)

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Recently, the electrical insulation design for electrical apparatuses is important to cope with the tendency of high voltage. The degradation characteristics of a superconducting coil due to an electrical breakdown should be considered to design a high voltage superconducting coil. In this paper, the degradation characteristics of 2G high temperature superconducting (HTS) wires are studied with respect to electrical breakdown tests. To analyze the dependency of the degradation characteristics of 2G HTS wires, the electrical breakdown tests are performed with AC(alternating current) and DC(direct current) voltage. All tests are performed by applying various magnitudes of AC and DC breakdown voltages. To verify the degradation characteristics of 2G HTS wires, the tests are performed with various 2G HTS wires with respect to stabilizer materials. The degradation characteristics of 2G HTS wires, such as Ic(critical current) and index number are measured by performing electrical breakdown tests. It is found that the characteristics such as Ic and index number can be degraded by an electrical breakdown. Moreover, it is concluded that the degradation characteristics of 2G HTS wires are affected by the stabilizer material and applied voltages. The cross-sectional view of 2G HTS wires is observed by using a scanning electron microscope (SEM). As results, it is found that the degradation characteristics of 2G HTS wires are concerned with hardness and electrical conductivity of stabilizer layers.
#degradation characteristics #critical current #electrical breakdown #index number #stabilizer #2G HTS wire

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