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논문 기본 정보

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저자정보
저널정보
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제28권 제6호
발행연도
2015.1
수록면
360 - 364 (5page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2015

전자기 펄스 반복률에 의한 반도체 소자의 고장특성 연구
박기훈 일반 2015.01 학위논문
펄스 반복률에 의한 반도체 소자의 오동작 모드와고장률에 관한 연구
박기훈 ,  허창수 ,  방정주 외 1명 전기전자재료학회논문지 2015.01 학술저널

초록· 키워드

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반도체로 구성된 전자시스템이 발전하면서 점점 복잡해지고 소형화 되고 있다. 만약 전자시스템이 HPEM에 노출 된다면 시스템은 전자기파의 커플링 효과로 인하여 파괴될 것이다. HPEM은 빠른 상승시간의 펄스와 높은 전압의 펄스를 지니고 있기 때문에 반도체 소자는 커플링된 전자기 펄스와 같은 외부 스트레스 요인에 민감하다. 그러므로 본 논문에서는 펄스 전압과 펄스 반복률에 의한 반도체 소자의 고장 모드와 파괴 확률에 관하여 알아보았다. 펄스주입시험은 HPEM이 전력케이블로 커플링 된 후의 현상을 알 수 있으므로 범용의 IC의 각 핀에 펄스를 주입하여 시험하였다. 펄스 제너레이터로부터 발생된 펄스는 2.1 [ns]의 폭, 1.1 [ns]의 상승시간 그리고 30, 60, 120 [Hz]의 반복률의 특성을 갖는다. 주입 펄스는 타이머 IC에서 생성된 출력의 주파수, 주기, 그리고 듀티 비를 변화시켰다. 또한, 펄스 반복률이 증가함에 따라 타이머 IC가 파괴되기 시작하는 임계전압을 감소시켰다.
#Solid state device #HPEM #Susceptibility #Pulse generator #Failure rate #Pulse repetition rate

목차

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E. Loh / 1983 / IEEE Transactions on Components / Hybrids and Manufacturing Technology CHMT-6 : 209 ~ google schola J. I. Hong / 2009 / / Journal of Electromagnetic Waves and Applications 23 : 571 ~ google schola M. Camp / 2002 / / IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 1 : 87 ~ google schola M. Camp / 2004 / / IEEE Transactions on Eletromagnetic Compatibility 43 : 368 ~ google schola M. Rezal / 2010 / / IEEE Student Conference on Research and Development : 272 ~ google schola

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