지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
이용수
초록· 키워드
오류제보하기
Systems-On-Chips(SoC)에서 내장 메모리가 차지하는 비중은 비약적으로 증가하여 전체 트랜지스터 수의 80%～90%를 차지하고 있어, SoC에서 내장된 메모리에 대한 테스트 중요성이 증가하고 있다. 본 논문은 다양한 테스트 알고리즘을 지원하는 IEEE 1500 래퍼 기반의 프로그램 가능한 메모리 내장 자체 테스트(PMBIST) 구조를 제안한다. 제안하는 PMBIST는 March 알고리즘 및 Walking, Galloping과 같은 non-March 알고리즘을 지원하여 높은 flexibility, programmability 및 고장 검출률을 보장한다. PMBIST는 최적화된 프로그램 명령어와 작은 프로그램 메모리에 의해 최적의 하드웨어 오버헤드를 가진다. 또한 제안된 고장 정보 처리 기술은 수리와 고장 진단을 위해 2개의 진단 방법을 효과적으로 지원하여 메모리의 수율 향상을 보장한다.
목차
요약
Abstract
I. 서론
II. 제안하는 Programmable Memory BIST
III. 검증 및 성능평가
IV. 결론
참고문헌
참고문헌 (11)
참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - A. van de Goor / 2011 / Generic, Orthogonal and Low-cost March Element based Memory BIST / Proceeding of IEEE ITC : 1 ~ 10
2. [학술지(정기간행물)] - W. L. Wang / 2001 / An on-chip march pattern generator for testing embedded memory cores / IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems 9 (5) : 730 ~ 735
3. [학술대회논문] - Yamasaki, I. Suzuki / 2005 / External memory BIST for system-in-package / Proceeding of International Test Conference : 1145 ~ 1154
4. [학술대회논문] - A. W. Hakmi / 2007 / Programmable deterministic Built-In Self-Test / Proceeding of IEEE International Test Conference : 1 ~ 9
5. [기타자료] - IEEE Computer Society / 1990 / IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture / IEEE Standards Board
2. [학술지(정기간행물)] - W. L. Wang / 2001 / An on-chip march pattern generator for testing embedded memory cores / IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems 9 (5) : 730 ~ 735
3. [학술대회논문] - Yamasaki, I. Suzuki / 2005 / External memory BIST for system-in-package / Proceeding of International Test Conference : 1145 ~ 1154
4. [학술대회논문] - A. W. Hakmi / 2007 / Programmable deterministic Built-In Self-Test / Proceeding of IEEE International Test Conference : 1 ~ 9
5. [기타자료] - IEEE Computer Society / 1990 / IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture / IEEE Standards Board
이 논문의 저자 정보
이 논문과 함께 이용한 논문
최근 본 자료
댓글(0)
0
UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2014-569-000245746