메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
임광철 (조선대학교) 최진석 (조선대학교)
저널정보
한국지능시스템학회 한국지능시스템학회 논문지 한국지능시스템학회 논문지 제20권 제6호
발행연도
2010.12
수록면
837 - 842 (6page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
본 논문에서는 양자암호 시스템의 설계과정에서 필연적으로 사용되는 의사난수들의 비트열들이 다수개 존재하는 현상과 이를 상호 공개된 채널에서 부분정보를 공유해야 하는 상황은 비트열들의 쌍을 노출 시킨다. 본고에서는 이러한 의사난수열의 기본 테스트 과정과 이를 벗어나는 이진 병합 비트열의 난수성에 대하여 살펴 본다.

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 양자암호시스템
3. 난수성 테스트
4. 이진병합과 양자암호의 안전성 고찰
5. 결론
참고문헌
저자소개

참고문헌 (15)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2012-028-003781643