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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1997년도 가을 학술발표논문집 제24권 제2호(Ⅱ)
발행연도
1997.10
수록면
725 - 728 (4page)

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대용량 메모리의 결함을 검출하기 위한 기능 테스트는 메모리의 각 셀에 대한 반복된 읽기와 쓰기 동작으로 결함을 검출한다. 그러나 대용량 메모리에는 셀의 수가 너무 많기 때문에 기능 테스트에 장시간이 소요된다. 이러한 문제의 해결 방법으로 병렬 테스팅이 가능한 1Gb 메모리 구조를 제안한다. 제안한 1Gb 메모리는 4096배 빠른 테스팅을 수행 할 수 있다. 또한 제안한 메모리에서 고착 결함, 천이 결함, 결합 결함 및 어드레스 결함을 검출하는 march 테스트 알고리즘에 대하여 보였다.

목차

요약

1. 서론

2. 기존 연구와 문제점

3. 제안 메모리 구조

4. March 테스트 알고리즘

5. 결론

참고문헌

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